| 型号规格 | JQ-B240 |
| 测试系统 | 测试模组/成像模组 / 暗室模组 |
| 检测时间 （S） | 1~5S |
| 检测对象 | 晶体硅组件；单晶/多晶 |
| 检测方式 | 白天暗室检测/夜晚支架上组件直接检测 |
| 可判断缺陷类型 | 隐裂/断栅/黑心/黑边/低效率片/烧结网纹/碎片/边缘过刻/材料缺陷 |
| 成像系统 | 分辨率:2400W， |
| 自动对焦 |
| 内置无线传输模组/外接远程无线wifi |
| 暗室系统 | 暗室帐篷 |
| 面积(mm):2200*2200*1300（可定制） |
| 上电电源（可选） | 直流稳压电源 60V10A（标配）便携式发电机（可选）多组件供电电源（可选） |
| 上电模式 | 手动连接组件上电 |